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  • TEE-225PF線性快速溫變箱助力芯片可靠性測試
    TEE-225PF線性快速溫變箱助力芯片可靠性測試

    線性快速溫變箱助力芯片可靠性測試 半導體芯片在實際使用過程中會經歷不同的環(huán)境溫度。快速溫變試驗箱可以模擬從極低溫(例如 -60℃)到高溫(例如 150℃)的快速溫度變化循環(huán)。 模擬產品在極-端或快速變化的溫度環(huán)境下的性能表現(xiàn)。在電子、汽車、航空航天等領域,用于檢測電子產品、零部件、材料等對溫度變化的耐受性,幫助企業(yè)優(yōu)化產品設計、提高產品質量和可靠性。

    更新時間:2024-12-18型號:TEE-225PF瀏覽量:202
  • GHTEC-335PF線性升降溫快速溫變試驗箱
    GHTEC-335PF線性升降溫快速溫變試驗箱

    線性升降溫快速溫變試驗箱 用于電子元氣件的安全性能測試提供可靠性試驗、產品篩選試驗等,同時通過此裝備試驗,可提高產品的可靠性和進行產品的質量控制。快速溫變試驗箱是航空、汽車、家電、科研等領域的測試設備,考核和確定電工、電子、汽車電器、材料等產品,在進行高低溫試驗的溫度環(huán)境沖擊變化后的參數(shù)及性能,使用的適應性,適用于學校、工廠、軍工、科研院所等單位。

    更新時間:2024-12-02型號:GHTEC-335PF瀏覽量:237
  • GHTEC-335PF線性快溫變試驗箱
    GHTEC-335PF線性快溫變試驗箱

    線性快溫變試驗箱 用于電子元氣件的安全性能測試提供可靠性試驗、產品篩選試驗等,同時通過此裝備試驗,可提高產品的可靠性和進行產品的質量控制。快速溫變試驗箱是航空、汽車、家電、科研等領域的測試設備,考核和確定電工、電子、汽車電器、材料等產品,在進行高低溫試驗的溫度環(huán)境沖擊變化后的參數(shù)及性能,使用的適應性,適用于學校、工廠、軍工、科研院所等單位。

    更新時間:2024-12-02型號:GHTEC-335PF瀏覽量:212
  • GHTEC-100PF溫度快速變化試驗箱
    GHTEC-100PF溫度快速變化試驗箱

    溫度快速變化試驗箱 用于電子元氣件的安全性能測試提供可靠性試驗、產品篩選試驗等,同時通過此裝備試驗,可提高產品的可靠性和進行產品的質量控制。快速溫變試驗箱是航空、汽車、家電、科研等領域的測試設備,考核和確定電工、電子、汽車電器、材料等產品,在進行高低溫試驗的溫度環(huán)境沖擊變化后的參數(shù)及性能,使用的適應性,適用于學校、工廠、軍工、科研院所等單位。

    更新時間:2024-12-02型號:GHTEC-100PF瀏覽量:226
  • GHTEC-100PF高低溫快速溫度變化試驗設備
    GHTEC-100PF高低溫快速溫度變化試驗設備

    高低溫快速溫度變化試驗設備用于電子元氣件的安全性能測試提供可靠性試驗、產品篩選試驗等,同時通過此裝備試驗,可提高產品的可靠性和進行產品的質量控制。快速溫變試驗箱是航空、汽車、家電、科研等領域的測試設備,考核和確定電工、電子、汽車電器、材料等產品,在進行高低溫試驗的溫度環(huán)境沖擊變化后的參數(shù)及性能,使用的適應性,適用于學校、工廠、軍工、科研院所等單位。

    更新時間:2024-12-02型號:GHTEC-100PF瀏覽量:214
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