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快速溫度變化濕熱試驗箱電子元器件老化測試
簡要描述:

快速溫度變化濕熱試驗箱電子元器件老化測試
在半導體芯片的研發和生產過程中,快速溫度變化濕熱試驗箱可用于模擬芯片在不同工作環境下的溫度和濕度變化。芯片在實際使用中會經歷從低溫到高溫的快速切換,如在電子設備的啟動和運行過程中

  • 產品型號:TEC-800PF
  • 廠商性質:生產廠家
  • 更新時間:2024-12-13
  • 訪  問  量:254
詳情介紹
品牌廣皓天產地類別國產
溫度范圍- 40℃~+150℃溫度波動度±0.3℃(-20℃~+100℃)、±0.5℃(+100.1℃~+150℃)
溫度偏差±1.5℃(+100.1℃~+150℃) 升溫時間 平均非線性5℃
降溫時間平均非線性5℃濕度范圍20%~98% R.H
濕度偏差≤±3%RH溫度均勻度 ±2℃
溫度控制精度±0.5℃工作室尺寸 1000×800×1000mm
容積 800L 外形尺寸 1250×1750×2180mm
電源電壓AC380V±10%,50Hz制冷劑R404a/R23

快速溫度變化濕熱試驗箱電子元器件老化測試


電子元器件老化測試

對于電阻、電容、電感等電子元器件,濕熱環境和溫度變化會影響其電氣性能和壽命。利用試驗箱進行老化測試,可以加速元器件的老化過程,提前篩選出存在質量缺陷的產品。例如,在高溫高濕環境下,電容的絕緣性能可能會下降,通過設置不同的溫度和濕度循環,能夠檢測電容在這種環境下的耐久性,確保其在實際電子產品中的長期穩定運行。


快速溫度變化濕熱試驗箱電子元器件老化測試


(一)溫度控制系統

高精度傳感器

采用的鉑電阻溫度傳感器,具有高的測量精度和穩定性。能夠實時準確地監測試驗箱內的溫度變化,為溫度控制提供可靠的數據基礎。其測量精度可達到 ±0.1℃,能夠滿足對溫度變化要求極為嚴苛的測試需求。

快速加熱與制冷技術

配備高效的加熱元件和制冷壓縮機。加熱元件采用不銹鋼鎧裝加熱絲,加熱功率大且熱響應速度快,能夠在短時間內將試驗箱內溫度升高到設定值。制冷系統采用復疊式制冷技術,通過不同制冷劑的組合,實現了寬范圍的低溫制冷效果,并且降溫速率快,例如從常溫降至 -60℃的時間可控制在較短時間內,滿足快速變溫的要求。

智能溫度控制算法

運用的 PID(比例 - 積分 - 微分)控制算法,根據傳感器反饋的溫度數據,實時調整加熱或制冷功率。該算法能夠快速響應溫度偏差,控制溫度變化曲線,使試驗箱內的溫度按照預設的速率均勻地上升或下降,有效避免了溫度過沖或波動過大的問題,確保了溫度控制的穩定性和準確性。




快速溫度變化濕熱試驗箱電子元器件老化測試


優質絕熱材料

試驗箱箱體采用多層絕熱結構,內層為不銹鋼板,具有良好的耐腐蝕性能,能夠適應濕熱環境的長期作用。中間層填充高密度聚氨酯泡沫絕熱材料,其導熱系數低,有效地減少了試驗箱內外的熱量傳遞,降低了能耗,同時保證了箱內溫度的穩定性,減少了外界環境對測試結果的干擾。





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